Skip to content

Dyfraktometr X’Pert Pro MPD wykorzystuje technikę X-ray diffraction w analizie MPD (Materials Powder Diffraction). Dyfrakcja XRD to nieniszcząca technika analityczna stosowana do analizy właściwości fizycznych, takich jak skład fazowy, struktura kryształów stałych i ciekłych. Istnieją materiały składające się z krystalitów. W dyfraktometrze rentgenowskim różne fazy krystaliczne dają różne wzory dyfrakcyjne. Identyfikację faz można przeprowadzić poprzez porównanie wzorów dyfrakcji promieni rentgenowskich uzyskanych z próbek z wzorami w referencyjnych bazach danych.

LB05_2

Parametry,
dane techniczne

Producent: Panalytical. Źródło promieniowania rentgenowskiego: promieniowanie Cu Κα (Κα = 1,54187 Å). Promień goniometru: 240 mm. Geometria: Bragg-Brentano (układ θ-θ, goniometr pionowy). Zakres skanowania 2θ: 3°-150°. Minimalna-maksymalna wielkość kroku: 0,001°-1,27°. Automatyczny ładowarka: 10 próbek. Skupiające lustro rentgenowskie dla Cu Κα. Moduł dyfrakcyjny PreFIX: Detektor liniowy X’Celerator. Oprogramowanie: X’pert Data Collector, X’pert Data Viewer.

Dyfraktometr X’Pert Pro MPD

Lokalizacja fizyczna:
WBiA, A40

Jak skontaktować się w sprawie urządzenia?

Zapraszamy do skontaktowania się z nami w sprawie aparatury badawczej. W razie pytań lub wątpliwości nasz ekspert udzieli odpowiedzi.

    Formularz kontaktowy







    Treść zapytania:


    Nazwa aparatury:
    Dyfraktometr X’Pert Pro MPD

    Nr inwentarzowy: 7848
    Nr inwetarzowy: 7848
    Udostępnij
    Powiadom
    Udostępnij
    LinkedIn
    Email
    Drukuj