Xradia 510 Versa [Carl Zeiss Microscopy, Inc.], nieniszcząca charakterystyka struktury, analiza jakościowa i ilościowa parametrów struktury, ocena zachowania struktury materiałów pod obciążeniem
Wysokorozdzielczy nanotomograf rtg z testerem wytrzymałościowym in-situ
Parametry,
dane techniczne
źródło RTG 30-160 kV/10W, rozdzielczość max. 40 nm, masa próbki 25 kg, max. Średnica próbki 150 mm, max wysokość próbki 300 mm, oprogramowanie sterujące [Zeiss] i analityczne Dragonfly ORS [Comet]
Wysokorozdzielczy nanotomograf rtg z testerem wytrzymałościowym in-situ
Lokalizacja fizyczna:
CIiZT R516
CIiZT R516
Materiały eksploatacyjne: brak wymagań
Jak skontaktować się w sprawie urządzenia?
Zapraszamy do skontaktowania się z nami w sprawie aparatury badawczej. W razie pytań lub wątpliwości nasz ekspert udzieli odpowiedzi.
Nazwa aparatury:
Wysokorozdzielczy nanotomograf rtg z testerem wytrzymałościowym in-situ
Nr inwentarzowy: 10324
Nr inwetarzowy: 10324
Udostępnij
Powiadom
Udostępnij
LinkedIn
Email
Drukuj