Mikroskop sił atomowych AFM (Atomic Force Microscope) wykorzystywany jest do obrazowania dwu i trzy-wymiarowej topografii powierzchni materiałów tak w powietrzu, jak i w cieczach. Wyposażony w uchwyt umożliwiający pomiar przekroju poprzecznego materiałów litych, jak i miękkich. Maksymalny obszar skanowania 100 µm x 100 µm w płaszczyźnie XY przy maksymalnie 5 µm w płaszczyźnie Z. Skanowanie może odbywać się w następujących trybach: Contact- kontakt ostrza z powierzchnią; Tapping- tryb rezonansowy, ostrze nie ma kontaktu z powierzchnią; Non-contact – do obrazowania wykorzystywane są siły Van der Waalsa występujące pomiędzy powierzchnią a ostrzem. QNM (Quantitative Nanomechanics) – umożliwia ilościowe charakteryzowanie materiałów
w nanoskali (tj. nanomechanika, w tym moduł Younga i adhezja), jednocześnie obrazując topografię próbki w wysokiej rozdzielczości. Zakres pracy PeakForce QNM od 1 MPa do 50 GPa dla modułu Younga oraz od 10 pN do 10 μN dla adhezji, umożliwiając scharakteryzowanie wielu różnych typów próbek. Pozwala także na ograniczenie wgłębień do kilku nanometrów, co zarówno zachowuje rozdzielczość, jak i zapobiega uszkodzeniu próbki. MFM (Magnetic Force Microscope) – obrazowanie topografii i właściwości magnetycznych powierzchni. LFM (Lateral Force Microscope)- obrazowania zmian w tarciu powierzchniowym.